超深熔融石英玻璃蚀刻( 二 )
结果和讨论
3.1.49% HF中掩蔽材料的完整性
3.1.1铬/金+ HFPR 。 由于金的化学惰性和铬对玻璃和熔融石英的强粘附性 , 金-铬膜被广泛用作HF蚀刻的掩模材料 。 仅使用Cr/Au作为掩模 , 在熔融石英中蚀刻大约200微米深 , 我们能够获得光学透明的蚀刻表面 , 尽管掩模下的石英表面严重凹陷(图2a) 。 先前使用铬/金掩模的报告也显示了类似的点蚀特征[3
.然而 , 当我们用HFPR进一步保护Cr/Au膜时 , 特征边缘的Cr/Au掩模要好得多
即使经过近3个小时的蚀刻时间(166微米深)仍能保留 。 点蚀也是
与仅用Cr/Au掩模掩蔽的晶片相比显著降低(图2b) 。
3.1.2多晶硅+ HFPR 。 为了蚀刻600微米深的熔融石英 , 我们选择了多晶硅掩模 , 因为之前已经证明它显示出比Cr/Au明显更少的点蚀3
.然而 , 我们使用1.5微米厚的多晶硅薄膜的尝试没有成功 。 如在以前的报告中 , 在49% HF中蚀刻40分钟后 , 多晶硅膜保持无缺陷3
, 但在2小时后 , 多晶硅膜中的蚀刻缺陷出现 , 5小时后 , 我们不得不停止蚀刻 , 因为薄膜上有凹痕 , HF溶液从晶片支架的o型环下泄漏(图2d) 。 为了解决这个问题 , 我们在多晶硅薄膜来保护它 。 这种策略允许我们在熔融石英中蚀刻超过600微米 , 尽管在9小时的蚀刻时间后 , 下面的多晶硅和熔融二氧化硅有明显的凹痕 。 此外 , 图案化特征边缘的多晶硅已经退化(图2e) , 这有时会导致多晶硅碎片落到平坦的蚀刻表面上 , 从而导致微掩模 。
【超深熔融石英玻璃蚀刻】3.2.不同掩膜下的熔融石英底切和蚀刻速率
用Cr/Au + HFPR掩蔽导致蚀刻速率为1.12±0.06微米/分钟(平均标准偏差 , N=7个晶片蚀刻162-184分钟;图3a) 。 该速率对应于3小时内202×11微米的最终蚀刻深度 。 与晶片之间蚀刻速率的显著可变性相反 , 在单个晶片内 , 蚀刻速率在空间上非常均匀:当用限定多个沟槽的掩模处理两个晶片时 , 在166分钟的蚀刻后 , 这些沟槽的深度在0.33和0.48微米(两个晶片的每一个中15个测量的沟槽的蚀刻深度的均方根可变性)内是恒定的 。 当单独使用HFPR时 , 蚀刻速率非常相似 , 即使当蚀刻大约200微米时 , 这导致比Cr/Au + HFPR大得多的底切(图3a) 。
图3
图3 。 不同掩模方案的蚀刻特征和蚀刻速率的轮廓测量迹线 。 a .在用Cr/Au + HFPR掩模(红色)和单独的HFPR(蓝色)蚀刻大约200微米深度后 , 熔融石英的特征轮廓和蚀刻速率 。 蚀刻特征的纵横比(深度/图案直径)约为0.22 。 b .用polySi + HFPR掩模(绿色)和HFPR掩蔽的熔融石英的特征轮廓和蚀刻速率
独自一人(蓝色) 。 仅用HFPR掩蔽的晶片首先被蚀刻334-390微米深 ,
食人鱼清洗 , 测量 。 然后 , 再次用HFPR对相同的蚀刻晶片进行构图 , 并第二次蚀刻至547–617 μm的总深度 。 蚀刻特征的纵横比约为0.70 。 轮廓轨迹上方的橙色结构表示原始掩模图案 。 误差条代表几个晶片的蚀刻速率的标准偏差 。
结论
我们华林科纳已经提出了一种处理方案 , 该方案可以在熔融石英中湿法蚀刻至少600微米深 。 我们用耐HF的光敏抗蚀剂ProTEK PSA实现了这一点 。 这种掩模工艺不需要超过标准的光刻设备(表1) , 产生了无凹坑的衬底和平均粗糙度约为10 nm的蚀刻表面 , 尽管具有显著的特征底切 。 当HFPR与Cr/Au或polySi膜结合时 , 底切更受限制 , 其代价是长蚀刻时间的大量表面点蚀 。 将来 , 通过将HFPR与应力控制的“硬”掩模相结合 , 有可能使表面点蚀和底切最小化 。
我们证明了蚀刻的熔融石英表面允许通过该装置进行光学成像 。 这种处理方案将有助于制造透明的生物装置 。 一个应用是平面膜片钳电极 。 另一种是多电极阵列:穿孔膜电极组件近来受到越来越多的关注 , 因为它们同时能够实现组织固定、氧灌注和来自多个平行电极的记录 , 但是目前可用的装置不是透明的.我们现在能够在允许光学成像的光学透明衬底中制造类似的器件[37
.最后 , 由于光敏抗蚀剂图案化的简单性 , 研究人员将能够在最少的处理时间内测试各种熔融石英和/或玻璃器件原型的性能 。
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