电子测试热系统_电子测试热系统是现在各种元器件材料中

电子测试热系统是现在各种元器件材料中使用比较多的测试设备，电子测试热系统是利用高低温进行测试的系统，适应当下新技术条件下，对于元器件材料的温度要求。

随着现代技术发展日新月异，技术的发展对材料、器件的要求越来越高，随之而来对它们的各种性质的测量也显得越来越重要，所以对测量仪器的要求也越来越高，电子测试热系统针对此类元器件行业进行测试。

由于各科研单位在微电子材料、纳米材料的制备与测试方面的需要，特别是对微电子的半导体材料的在高低温下的导电率的测试以及纳米材料的高低温下性能测试需要，研发了电子测试热系统。

电子测试热系统采用压缩机制冷，测试温度-45℃~-250℃ ，电子测试热系统真空技术及石英外壳的辐射式加热器的采用，防止薄膜类样品在空气中由于吸附氧化作用被污染，电子测试热系统真空、低温、及辐射式加热技术的结合，可模拟太空环境(低温、真空、太阳辐射) ，也适合航天、卫星器件的测试。电子测试热系统的这些特点，也满足进行低温光学元件测试的真空低温条件，高温超导材料的性质研究的低温条件，在这些方面有一定应用价值。