硅表面的疏水性对HF-last湿化学处理过程中水迹形成的影响
文章图片
本研究考察了这些HF最终工艺对干燥后南水标记的生成有何影响 。通过对Teflon、SiO2、Silicon分别进行适当的清洗步骤 ， 制备了具有亲水性和疏水性表面的试样 ， 然后用动态接触角度分析器(DCA)分析了各试样的接触性 。 这样准备的每个具有不同接触性的诗篇上滴下10ul的超纯水(18.2M0-cm) ， 然后在30 ℃、N2和O2气氛中干燥 ， 故意生成了water mark 。 将生成的水标记的大小与接触角和干燥气氛相关联 ， 进行了比较分析 。 【硅表面的疏水性对HF-last湿化学处理过程中水迹形成的影响】
清洗后测量的接触角等于表1 ， 接触角测定结果表明 ， HF处理的硅和Teflon表现出大接触角的疏水性 ， SiO2和HF未处理的硅表现出低接触角的亲水性 ， 针对这些不同接触性的诗篇 ， 将O2和N2中残留在高敌人诗篇表面的水滴干燥后 ， 在亲水性和疏水性的诗篇母豆中产生了water mark ， 但是 ， 如图1所示 ， 在初始水滴和水标记大小的差异值上 ， 对于其他诗篇 ， N2和O2的差异值 ， 值为0.2毫米左右 ， 几乎没有差异 ， 而HF处理的硅的差异为0.8毫米 ， 可见其表面与O2产生了某种化学反雄 ， 另一方面 ， 故意将直径为2.04uma的球形聚天龙颗粒塞进水滴内 ， 观察水滴照射后这些颗粒的分布情况 。
结果 ， 疏水性的诗篇将这些粒子密集在一起 ， 形成了一个致密的团 ， 而在亲水性的情况下 ， 这些粒子分布得很广 。 分析认为 ， 水滴内存在的异物根据表面状态(表示不同的接触性)的不同行为 ， 结果产生不同方面的水标记 。
推荐阅读
- 我找到万物变化的模板了
- 茫茫宇宙之中，生命位于内部的行星，比生命位于表面的行星更多？
- 用蚀刻法测定硅晶片表面的金属杂质
- 为啥超市里面的猪肉，要比菜市场里便宜？超市员工透漏其中的猫腻
- 刚回到地面的宇航员，为什么出舱时需要抬着？知道原因后心疼他们
- 丈夫每个月给我6万，让我不要管他在外面的事情，我爽快答应了
- 地面的鸟类山鹬
- 潘子直播卖茅台酒损失上千万，网友：“又是员工的疏忽？”
- 火星表面有很大的风，“祝融号”可以利用上面的风力发电吗？
- 多亏当年厚着脸皮借钱买房，为后面的多套房子埋下了种子