通过原子 Pt 限制降低碳化钒 MXene 的高氢结合强度以实现对 HER 的高活性( 三 )


对于Ag/AgCl电极 , E(RHE) = EAg/AgCl + 0.197 + 0.0591 pH
对于Hg/HgO电极 , E(RHE) = EHg/HgO + 0.098 + 0.0591 pH
2.4.理论计算
我们已经使用在Vienna Ab Initio Simulation Package (VASP)中实施的投影仪增强波(PAW)方法进行了密度泛函理论(DFT)计算 。 交换相关相互作用由广义梯度近似(GGA)描述 。 Perdew-Burke-Ernzerhof泛函的形式 。 范德瓦尔斯相互作用是通过使用Tkatchenko-Scheffler方法来描述的 。 截止能量设置为600 eV , 结构弛豫期间每个原子上残余力的收敛容差设置为0.005 eV/? 。 z方向的真空空间>13? , 足以防止周期性图像之间的相互作用 。 在结构优化和态密度计算过程中 , 4×4×1超胞的K点分别为3×3×1和20×20×1的Monkhorst-Pack网格对布里渊区进行采样 。 中间体氢吸附在催化剂上的吉布斯自由能(ΔGH*)由ΔGH*=ΔEB+ΔEZPE-TΔSH=ΔEB+0.24得到 , 其中ΔEB是原子氢的结合能 , ΔEZPE和ΔSH是氢原子吸附态与气相氢之间的零点能量和熵的差异 。
3 。 结果与讨论
3.1.Pt-V2CTX的合成及结构特征
图1a展示了合成分层V2CTX和Pt-V2CTX纳米片的整个过程 。 使用HF溶液选择性蚀刻多层结构的V2AlC MAX以去除Al层 , 为V2CTXMXene提供自发生成的端基(TX = -F、-O、-OH) 。 清晰地观察到V2CTX的层状结构和由蚀刻的Al层引起的空腔(图1b) 。 此外 , 为了合成薄的V2CTX纳米片 , 层状V2CTX插入TBAOH溶液 , 然后分层(图S1) 。 V-Al键在选择性Al蚀刻过程中被破坏 , 在V2CTX中形成V原子空位 。 这些在合成过程中自然形成的V空位非常不稳定且具有还原性 , 充当限制Pt原子的活性位点 。 当H2PtCl6前驱体溶液加入到V2CTX溶液中时 , [PtCl6
2-离子被V2CTX表面上不稳定的还原性V空位均匀吸附并缓慢还原 , 诱导原子Pt的稳定掺杂形成Pt-V2CTX 。 该过程是自发反应 , 其中Pt原子的还原与Pt离子的吸附同时进行 。 为了支持Pt原子的自还原 , 我们考虑了zeta电位和DFT模拟结果(图S2和S3)估计了空位中单原子固定的可能性 。 zeta电位表明负表面电荷为-19.74 mV 。 这通过MXene的表面负电荷导致与[PtCl6
2-的排斥力 , 并且预计通过取代不稳定的空位而不是吸附和聚集在MXene的表面上更倾向于固定 。 为了大力补充这一建议 , 我们对Pt原子的结合能进行了DFT计算 , 这两种情况是表面终止的O位点和V金属空位 。 比较Pt附着到表面终止O位点的结合能和附着到V金属空位的结合能 , 当Pt原子取代V空位并被固定(–5.813 eV)时 , 发现它在能量上更加稳定比终止的O位点(–2.404 eV) 。 此外 , V金属空位中Pt原子的最佳结合能(–5.813 eV)与Pt原子的内聚能(5.84 eV/原子)相当 , 表明Pt原子在V2CTX的V空位中的稳定性质 。 基于这些结果 , V2CTX MXene的V空位的取代和固定被认为是一个有利的反应 。 使用原子力显微镜(AFM)分析合成的Pt-V2CTX的表面特性 。 AFM图像(图1c和图S4)表明合成的Pt-V2CTX显示出单层厚度(< 2 nm) , 表明表面光滑 , Pt-V2CTX表面没有任何变化 , 这可能是由通过其他粗还原工艺 。 此外 , X射线衍射(XRD)图证明了Pt-V2CTX上的分层结构和孤立的Pt原子 。 图1d显示了V2CTX在分层和Pt掺杂过程后的XRD谱 , 表明V2CTX的结构变化 。 用于铝蚀刻的HF处理后的分层V2CTX在8.86°的2θ处显示出002峰 。 该峰可以分配给19.9 ?的c晶格参数(c-LP) , 这是典型的HF处理V2CTX的特征 。 在TBAOH处理后 , 观察到XRD谱的显着变化 , 002峰从8.86°(c-LP = 19.9 ?)的两个θ下降到5.05° (c-LP =34.9 ?) , 表明V2CTX的层间距离和分层 。 此外 , Pt取代的V2CTX的XRD图案仅显示V2CTX MXene的特征峰 。 没有观察到对应于Pt NPs的峰和V2CTX的明显峰变化 , 表明Pt原子的引入没有显着改变V2CTX结构 。



图1. Pt-V2CTX纳米片的结构特征 。 (a) Pt-V2CTX纳米片合成示意图 。 (b) V2CTX纳米片的SEM图像 , (c) Pt-V2CTX纳米片的AFM图像 。 (d)原始V2CTX、分层V2CTX和Pt-V2CTX纳米片的XRD图 。 (e) V2AlC MAX、分层的V2CTX和Pt-V2CTX纳米片的电子顺磁共振 。
此外 , 我们进行了电子顺磁共振(EPR)分析 , 以揭示Pt原子在原子上取代了V空位(图1e) 。 分层V2CTX MXene的EPR谱使用共振方程证实了图中间尖峰处的G因子为2.006 。 除了G = 2.006处的突出尖峰之外 , 由于超精细结构而形成的周围峰是由V的核和电子自旋相互作用产生的 , 并且可能是由V2CTX与可变端基形成的V基键引起的. 2.00的G因子通常是由结构中的原子空位形成的缺陷或自由基引起的 。 因此 , EPR峰确认了V2CTX MXene合成过程中产生的V空位 。 然而 , 在V2AlC MAX的情况下 , 没有观察到明显的EPR峰 。 此外 , 在Pt-V2CTX的情况下 , G因子2.006处的强度明显降低 , 这意味着现有V空位的减少 。 由于Pt原子的取代 , V空位的数量减少 , 并且Pt在V2CTX MXene的自然形成的V空位处被吸附和还原 。

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