三星高通辟谣背后：芯片制造的真实“良率”，我们可能一无所知
科技频道提示您本文原始标题是：三星高通辟谣背后：芯片制造的真实“良率”，我们可能一无所知 来源：亿欧网
8月22日，网络传闻“三星因发生良率事故导致高通5G芯片全部报废”上了热搜。
一位名为“手机晶片达人”的用户在微博上发文称，三星7nm EUV工艺（极紫外光刻技术）出现问题，导致高通5G单晶片7250受到损害，未来批量量产交付会出现问题。
8月22日，三星中国方面表示，已经确认过，传闻是没有任何事实根据的造谣。高通方面也表示，传闻是造谣。而原博主也已经删除相关微博。
造谣一张嘴，辟谣跑断腿啊！
关于此事前后经过，我们 不再过多展开，一切以官方声明为主。
不过，关于良率，则可以展开讲讲。
良率是一个处于产业链中游制造环节的概念，一直是各晶圆厂所关注的指标。关于良率的概念，良率怎么影响估值，本文一一回答。
文章主要分为两部分：
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