硬件|一颗小小的半导体芯片为何会产生那么大的热？( 二 )_一颗小小的半导体芯片|为何会

测试是检验真理的唯一标准。就像学生时代的临考前，老师们千叮咛万嘱咐的一句话：做完题目别着急交卷，先检查检查，在半导体制造过程中更是如此，从芯片的制造到交付出货期间，芯片测试已成为了不可或缺的环节。
在所有电子元器件的制造工艺里面，存在着去伪存真的需要，为了实现试验的过程，就需要各种试验设备，这类设备就是所谓的ATE（Automatic Test Equipment）。
ATE是一种通过计算机控制，进行芯片、电路板和子系统等测试的设备，通过计算机编程取代人工劳动，自动化地完成测试序列。ATE的应用场合涵盖集成电路整个产业链，主要包括了芯片的设计验证、晶圆制造相关的测试到封装完成后的成品测试。
ATE市场的发展可以追溯到1960年代，早期的半导体测试设备发展并不完全是由独立的设备商引导，而是由半导体制造公司主导。仙童半导体（Fairchild）、德州仪器（TI）等制造企业生产ATE都是用于内部使用，而从1980年代起， ATE领域开始进行整合， 2011年惠瑞捷（VERIGY）被收购后，形成了以泰瑞达（Teradyne）和爱德万测试的双寡头格局。
回顾ATE的发展史，可以说泰瑞达是“第一个吃螃蟹的人” 。早在1960年，两位麻省理工高材生在波士顿创立了泰瑞达公司。如今，在波士顿总部的展示区域，依旧陈列着世界上第一台ATE设备D133 ，它是1961年推出的第一台二极管测试机，标志着自动测试设备迈入全新纪元。Teradyne（泰瑞达）的命名颇有意思，名字中的"Tera"取自10的12次方的前缀， "dyne"是力学的单位。如此命名，也意味着这家公司将是一股不容小觑的巨大力量。
从70年代到80年代早期的十年间，集成电路经历了由小规模到中规模再到大规模和超大规模的变迁。这时计算机控制的测试系统成为主要的测试设备。80年代中期，随着门阵列器件的成功开发，对于测试方面要求达到了256管脚，速度高于40MHz 。进入到90年代，单片处理器单元（MPU）的问世也带来了高速高管脚数的ATE 。随后多媒体器件的出现使ATE变得更加复杂，需要同时具有数字电路、模拟电路和存储器电路的测试能力。
近年来，工艺节点不断提升，芯片制程工艺不断逼近物理极限，这些也带来了更高的集成度。随之而来，整个芯片的功耗方案也要作出相对应的改变。