3D闪存将走向何方?( 五 )

持续发展的字线堆叠数的Road Map(产品路线图)

之前东芝Memory 提到过通过Memory Through Hole(存储过孔)技术可能提高字线堆叠数。在2017年5月的国际学会IMW上,东芝提到可以实现200层的2Tbit/Die。2017年5月时间点,3D NAND闪存技术的字线堆叠数最大达到64层!我们迎来了在此基础上增加3倍的Road Map(产品路线图)!

第二年(2018年)的8月,在闪存半导体的行业大会FMS(Flash Memory Summit)上,SK Hynix表示,200层不过是一个过渡期,最终实现500层也是可能的!虽然没有公布单个Silicon Die的存储容量,从以往的趋势来看,应该是可以做到4Tbit/Die的堆叠数。

而且,今年(2019年)的8月6日,SK Hynix在FMS(Flash Memory Summit)上做了主题演讲(Key Note),演讲中很强势地提到了其Road Map(产品路线图):2020年176层、2025年500层以上、2030年800层以上。所谓的800层,理论上,是实现了8Tbit/Die的堆叠数。也就是说,用1个芯片(Single Die)就可以获得1TB!

3D闪存将走向何方?

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