日美光刻机大战,这位中国人帮助ASML打败日本,垄断全球市场( 十 )

光刻机的最小分辨率由公示 R=kλ/NA , 其中 R 代表可分辨的最小尺寸 , 对于光刻技术来说 , R 越小越好; k 是工艺常数; λ 是光刻机所用光源的波长; NA 代表物镜数值孔径 , 与光传播介质的折射率相关 , 折射率越大 , NA 越大 。 光刻机制程工艺水平的发展均遵循以上公式

光刻机发展这么久 , 最主要的还是所使用的光源的改进 , 每次光源的改进都显著提升了升光刻机的工艺制程水平 , 以及生产的效率和良率 。

从最早的436波长 , 90 年代前半期 , 光刻开始使用波长 365nm i-line , 后半期开始使用 248nm 的 KrF 激光 。 激光的可用波长就那么几个 , 00 年代光刻开始使用 193nm 波长的 DUV 激光 , 这就是著名的 ArF 准分子激光 。

193nm波长可以将芯片的工艺节点提升到65nm但是过了很久 , 半导体行业还是没有思考出超越193nm 的方案 , 科学家和产业界提出了各种超越 193nm 的方案 , 其中包括 157nm F2 激光 , 电子束投射 (EPL) , 离子投射 (IPL)、EUV(13.5nm) 和 X 光 ,

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