图S2：HEK 293T微管强度校正后的光栅扫描图像 。 我们在120毫秒内以150×150像素的图像分辨率捕获每张图像 ， 而使用光栅扫描方法对HEK 293T小管的压电陶瓷级激发的采集时间为50毫秒 。 采用20nm步长 ， 以375x的放大倍率进行成像 ， 缩短采集时间 。
文章来源：https://onlinelibrary.wiley.com/doi/10.1002/lpor.202200307
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